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Microscopio de fuerza atómica


El Microscopio de fuerza atómica (también conocido com o AFM por sus siglas en inglés Atomic Force Microscope) es un instrumento óptico-mecánico que detecta fuerzas medidas en piconewtons.
Este microscopio rastrea la topografía del elemento a analizar a través de una sonda que se acopla a una palanca microscópica flexible.
El microscopio AFM es un instrumento fundamental para los desarrollo nanotecnológicos ya que permite la caracterización y visualización de muestras de 1 nm.
El microscopio AFM que incluye tecnología Phase Imaging puede realizar medidas tanto en medios líquidos como en el aire. Esta técnica es de gran ayuda para la biomedicina, la nanotecnología y para los estudios medioambientales.

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Microscopio fuerza atómica - AFM

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